機器視覺更廣泛的可用性和改進的成像組件性能，以從紅外波長的非可見光捕獲和創(chuàng)建圖像是一種趨勢能力，可以積極影響各種機器視覺應(yīng)用。這種趨勢的一部分是能夠在各種IR波長下產(chǎn)生光的LED照明的激增。用于這種類型的成像的用例是普遍的，并且識別IR成像可以在何時何地可以使應(yīng)用受益，這主要取決于被成像的對象和應(yīng)用的需要。Kek機器視覺檢測設(shè)備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統(tǒng)_精質(zhì)視覺
大約700-1000nm的“近紅外”(NIR)波長的成像已經(jīng)用于機器視覺多年。用于成像約1000-2800nm的“短波紅外”(SWIR)波長的相機也不是全新的，但最近傳感器技術(shù)的進步使得這些相機在自動化應(yīng)用中更加實用。最后，現(xiàn)在可以使用非冷卻且非常適合自動檢測的小型相機(微測輻射熱計)進行熱成像或大約7000-14000nm發(fā)射的IR波長的成像。不可見成像-紅外波長Kek機器視覺檢測設(shè)備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統(tǒng)_精質(zhì)視覺
更廣泛的可用性和改進的成像組件性能，以從紅外波長的非可見光捕獲和創(chuàng)建圖像是一種趨勢能力，可以積極影響各種機器視覺應(yīng)用。這種趨勢的一部分是能夠在各種IR波長下產(chǎn)生光的LED照明的激增。用于這種類型的成像的用例是普遍的，并且識別IR成像可以在何時何地可以使應(yīng)用受益，這主要取決于被成像的對象和應(yīng)用的需要。Kek機器視覺檢測設(shè)備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統(tǒng)_精質(zhì)視覺
機器視覺大約700-1000nm的“近紅外”(NIR)波長的成像已經(jīng)用于機器視覺多年。用于成像約1000-2800nm的“短波紅外”(SWIR)波長的相機也不是全新的，但最近傳感器技術(shù)的進步使得這些相機在自動化應(yīng)用中更加實用。最后，現(xiàn)在可以使用非冷卻且非常適合自動檢測的小型相機(微測輻射熱計)進行熱成像或大約7000-14000nm發(fā)射的IR波長的成像。Kek機器視覺檢測設(shè)備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統(tǒng)_精質(zhì)視覺
實際執(zhí)行：Kek機器視覺檢測設(shè)備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統(tǒng)_精質(zhì)視覺
不可見成像具有特定用途。NIR已被用于消除機器視覺燈的高功率眩光造成的工作人員分心和不適，或突出顯示紅外燈可能以不同方式對顏色或某些材料作出反應(yīng)的特定部件的特征。SWIR波長由一些完全不透明的材料(例如許多塑料)傳輸，并且以與可見光波長非常不同的方式被一些透明的材料(例如水)吸收。當(dāng)熱像必須在自動化環(huán)境中進行測試時，熱成像是的解決方案。Kek機器視覺檢測設(shè)備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統(tǒng)_精質(zhì)視覺
實際限制：Kek機器視覺檢測設(shè)備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統(tǒng)_精質(zhì)視覺
機器視覺總體而言，對于非可見成像，如果目標(biāo)波長提供所需的成像結(jié)果，則該
技術(shù)是一個不錯的選擇。但是，請記住，應(yīng)用程序庫是機器視覺組合中用例的一小部分。限制可能包括：很難總是準(zhǔn)確地預(yù)測NIR或SWIR照明將如何與待檢查的材料相互作用。建議測試應(yīng)用程序。
Kek機器視覺檢測設(shè)備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統(tǒng)_精質(zhì)視覺 自動化中熱成像的一個共同挑戰(zhàn)是為相對于背景溫度的所需熱分布開發(fā)可靠的基線。例如，必須在部件由于散熱而冷卻之前進行“過熱”部件的檢查，并且在檢查過程中冷卻必須在部件之間保持一致。成本正在下降，但SWIR和熱部件可能比可見成像部件更昂貴。Kek機器視覺檢測設(shè)備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統(tǒng)_精質(zhì)視覺
